利用X射線熒光（XRF）進行鍍層厚度測量和材料分析，提高過程和質量控制。X-Strata是結構緊湊、堅固耐用、用于質量控制的可靠的臺式X射線熒光分析設備，提供簡單、快速、無損的鍍層厚度測量和材料分析。它在工業領域如電子行業、五金電鍍行業、金屬合金行業及貴金屬分析行業表現出卓越的分析能力，可進行多鍍層厚度的測量。

一款全面強大的X射線熒光分析儀，能夠檢測各種大小的樣品

快速、精確分析固體、液體和粉末

程控臺的大樣品艙方便樣品擺放和測量（可選）

集成電腦節省了臺式儀器的空間

高分辨率檢測器使檢測下限降到最低

應用廣泛，包括光電池、RoHS有害元素篩選和貴金屬分析