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鍍層測厚儀MAXXI 6提供高性能、快速可靠無損的鍍層厚度測量及材料分析，確保產品質量的一致性和高品質。
1、高分辨率的硅漂移器（SDD）
2、開槽式超大樣品艙設計
3、8個準直器4、USB接口與計算機連接 我們的鍍層測厚儀是基于X射線熒光光譜分析技術，該技術已被普遍認可并且得到廣泛應用，可以在無需樣品制備的情況下提供易于操作、快速和無損的分析。 鍍層測厚儀 MAXXI 6 配備多準直器系統及超大樣品艙，針對較薄而復雜的樣品，具有完美的解決方案。MAXXI 6 可分析固體和液體，元素范圍包括從元素周期表中的13Al到92U。 
亮點1、采用微聚焦X射線光管，實現高精度、高可靠性、測量時間短、購置成本低
2、采用高分辨率的硅漂移探測器（SDD），提供能量級別的最佳效率，極低的檢出限（LOD）
3、多準直器可優化不同尺寸樣品熒光信號產額，提高測量效率
4、開槽式超大樣品艙設計，十分適合電路板或其他超大平板樣品
5、“USB接口”只需通過USB與計算機連接，無需額外的硬件或軟件
6、德國制造，符合最高工程標準，堅固耐用的設計可實現長期可靠性
7、通過PTB（Physikalisch Technische Bundesanstalt）認證，滿足最高輻射安全標準
性能及符合性
1、最多同時測定5層，15種元素及共存元素的校正
2、同時實現多于25種元素的定量分析
3、檢測方法通過ISO 3497, ASTM B568, DIN 50987和IEC 62321等認證
性能及符合性
1、最多同時測定5層，15種元素及共存元素的校正
2、同時實現多于25種元素的定量分析
3、檢測方法通過ISO 3497, ASTM B568, DIN 50987和IEC 62321等認證 開槽式大樣品臺
1、可編程的XY樣品臺
2、樣品腔體積：500 × 450 × 170 mm
3、創新的防撞設計 可編程的樣品臺
1、預定位激光技術
2、最大化的樣品臺行程范圍及速度
3、自動測量 
軟件及校準
1、基于WindowsTM 7操作系統，直觀的軟件MaxxControl
2、選擇經驗校準以實現最大準確性或選擇FP無標樣模式以輕松實現校準
3、成分分析：可自由選擇元素；厚度測量：可自定義鍍層結構
4、對RoHS和貴金屬進行工廠預裝校準（可選）
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