X-MET7500礦物分析儀具備移動實驗室的分析功能,在現場就能為各種材料提供快速而可靠的分析,包括痕量元素和輕元素(從鎂元素開始)。它的最大特點是裝有一個大面積的硅漂移探測器,能提供快速分析(甚至在測量輕元素時),同時檢測重要金屬時檢測下限能低至1ppm,從而使采礦和土壤分析得到了大大的優化。
無需昂貴的實驗室分析 使用現場樣品進行快速靈活的自定義校準 市場上最快的啟動時間 幾秒鐘就能得到精確的現場分析結果 一次充電可工作長達12小時 基本不需要樣品制備 X射線熒光(XRF)分析是一個已經驗證過的方法,應用于從勘探、礦山制圖和品級監控,到環境監控的整個開采過程。 |